Multi-run memory tests for pattern sensitive faults
Auteur :
Mrozek, Ireneusz
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783319912035
Date de publication :
18 juil. 2018
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.