Introduction to spectroscopic ellipsometry of thin film materials: instrumentation, data analysis, and applications
Auteur :
Wee, Andrew T. S. / Yin, Xinmao / Tang, Chi Sin
Éditeur :
Wiley-VCH Verlag GmbH
ISBN :
9783527349517
Date de publication :
13 avr. 2022
Dimensions :
24,4 x 17,0 x 1,2 cm
Poids :
397 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Allemagne