Structural, syntactic, and statistical pattern recognition
Éditeur :
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN :
9783642149795
Date de publication :
30 juil. 2010
Dimensions :
23,6 x 15,5 x 3,0 cm
Poids :
1089 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Allemagne
Constitutes the refereed proceedings of the Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, held in Cesme, Izmir, Turkey, in August 2010.