Ellipsometry at the nanoscale
Éditeur :
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN :
9783662519714
Date de publication :
23 août 2016
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Allemagne
This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials.