Stochastic process variation in deep-submicron cmos: circuits and algorithms
Auteur :
Zjajo, Amir
Éditeur :
Springer
ISBN :
9789402402858
Date de publication :
23 août 2016
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Nederlands
This book features a unique combination of mathematical treatment of random process variation, electrical noise and temperature, and circuit realizations for on-chip monitoring and performance calibration. Includes examples and easy to follow procedures.