Thinning methodologies for pattern recognition

Auteur : Suen, Ching Yee
ISBN : 9789810214821
Date de publication : 28 nov. 1993
Dimensions : 22,0 cm
Langue : Anglais
Pays d'origine : Singapour

This collection of 15 papers by leading scientists working in the area examines the theoretical and experimental aspects of thinning methodologies. The authors have addressed the problems faced, compared their performance results with others and assessed the challenges ahead.

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