Software reliability growth models
Auteur :
Hanagal, David D. / Bhalerao, Nileema N.
Éditeur :
Springer Verlag, Singapore
ISBN :
9789811600272
Date de publication :
27 févr. 2022
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Singapour