Principal component analysis and randomness test for big data analysis: practical applications of rmt-based technique
Auteur :
Tanaka-Yamawaki, Mieko / Ikura, Yumihiko
Éditeur :
Springer Verlag, Singapore
ISBN :
9789811939662
Date de publication :
24 mai 2023
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Singapour