Fundamentals of atomic force microscopy - part i: foundations
Auteur :
Reifenberger, Ronald
Éditeur :
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
ISBN :
9789814630344
Date de publication :
12 nov. 2015
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Singapour
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.