Quantitative depth profiling and diffusion in thin films
Auteur :
Wang, Jiangyong / Yan, Xinliang / Lian, Songyou
Éditeur :
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
ISBN :
9789819811922
Date de publication :
15 juil. 2025
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Singapour